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Análisis por microscopio electrónica de barrido (SEM) y microanálisis por dispersión de energía (EDX) de una muestra de paramoudra (Formación Jaizkibel, País Vasco) / Galán, C., Oyarzabal, C.

By: Galán, Carlos, 1949-2023.
Contributor(s): Oyarzabal, C | Aranzadi Zientzia Elkartea | .
Material type: materialTypeLabelComputer fileCitation: Galán, C., Oyarzabal, C. 2009. Análisis por microscopio electrónica de barrido (SEM) y microanálisis por dispersión de energía (EDX) de una muestra de paramoudra (Formación Jaizkibel, País Vasco). Publ. Dpto. Espeleología S.C. Aranzadi. Publisher: Web Espeleología, Sociedad de Ciencias Aranzadi 11/2009Content type: Texto (visual) Media type: electrónico Subject(s): arenisca | concreciones | geología | ichnología | microscopía electrónica de barrido | Paramoudras | pseudokarstGenre/Form: InformeOnline resources: Click here to access online
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Publicación Publicación Publicaciones
http://www.aranzadi.eus/fileadmin/docs/espeleologia/SEM_EDX_Paramoudra_Jaizkibel_2009.pdf Not for loan

Restringido

Galán, C., Oyarzabal, C. 2009. Análisis por microscopio electrónica de barrido (SEM) y microanálisis por dispersión de energía (EDX) de una muestra de paramoudra (Formación Jaizkibel, País Vasco). Publ. Dpto. Espeleología S.C. Aranzadi.

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