Galán, Carlos  1949-2023 <br/><br/>
Análisis por microscopio electrónica de barrido (SEM) y microanálisis por dispersión de energía (EDX) de una muestra de paramoudra (Formación Jaizkibel, País Vasco) / 
Galán, C., Oyarzabal, C. 
 --   Web Espeleología, Sociedad de Ciencias Aranzadi   11/2009 
<br/><br/> Restringido 
<br/><br/>Galán, C., Oyarzabal, C. 2009. Análisis por microscopio electrónica de barrido (SEM) y microanálisis por dispersión de energía (EDX) de una muestra de paramoudra (Formación Jaizkibel, País Vasco). Publ. Dpto. Espeleología S.C. Aranzadi. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>arenisca<br/>concreciones<br/>geología<br/>ichnología<br/>microscopía electrónica de barrido<br/>Paramoudras<br/>pseudokarst
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Informe